Opening book details…
Can I read Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии on EtoBox?
Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии by Николичев Д.Е., Боряков А.В. is a nonfiction available to read on EtoBox.
What is Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии about?
Учебно-методическое пособие. - Нижний Новгород, ННГУ, 2011. - 110 с. Рассматриваются физические основы методов электронной оже-спектроскопии, сканирующей оже-микроскопии и принципы работы растрового электронного микроскопа. Описана методика исследования морфологии поверхности и состава полупроводниковых наноструктур с нанометровым разрешением. Приведены данные анализа состава самоорганизованных кремний-германиевых систем и тонкопленочных структур разбавленных магнитных полупроводников. Для студентов старших курсов и магистратуры физического факультета, обучающихся по специальностям 210600 - "Нанотехнология в электронике" и 210100 "Электроника и микроэлектроника", направление специализации - "Физика твердотельных наноструктур".
Who reads Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии?
It is typically read by self-directed learners exploring a subject in depth.
Common subject areas: history, science, philosophy, social sciences.
- Author
- Николичев Д.Е., Боряков А.В.
- Language
- RU
- Category
- nonfiction
- Subjects
- Technology, Nanotechnology, Stem
More by Николичев Д.Е., Боряков А.В.
Browse all works by Николичев Д.Е., Боряков А.В.
Similar books
- Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии: Учебно-методическое пособие — Николичев Д. Е., Боряков А. В. (2011)
- Диагностика материалов методами сканирующей зондовой микроскопии — Мошников В.А. (ред.)
- Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Описание лабораторной работы — Филатов Д.О., Круглов А.В. (2001)
- Программа дисциплины Исследование наноматериалов методами сканирующей электронной микроскопии — Кузнецов Д.К., Колосов В.Ю.
- Исследование электронных состояний в низкоразмерных структурах методами сканирующей зондовой микроскопии — Демиховский В.Я., Филатов Д.О.
- Определение концентрации Ge в эпитаксиальных пленках SixGe1-x/Si методом Оже-спектроскопии: Описание лабораторной работы — Максимов Г.А., Николичев Д.Е., Канышина М.В. (2002)