Opening book details…
Can I read Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Описание лабораторной работы on EtoBox?
Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Описание лабораторной работы by Филатов Д.О., Круглов А.В. is a nonfiction available to read on EtoBox.
What is Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Описание лабораторной работы about?
В лабораторной работе рассматриваются принципы работы сканирующего туннельного микроскопа и методика исследования топографии и туннельной спектроскопии поверхности твердых тел. Предназначена для студентов специализации ''Физика твердотельных наноструктур'', обучающихся по специальности 200.200 ''Микроэлектроника и полупроводниковые приборы''. Описание лабораторной работы подготовлено в Научно-образовательном центре сканирующей зондовой микроскопии ННГУ в рамках совместной Российско-американской программы ''Фундаментальные исследования и высшее образование''
Who reads Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Описание лабораторной работы?
It is typically read by self-directed learners exploring a subject in depth.
Common subject areas: history, science, philosophy, social sciences.
- Author
- Филатов Д.О., Круглов А.В.
- Publisher
- НОЦ СЗМ Нижегородского государственного университета
- Published
- 2001
- Language
- RU
- Category
- nonfiction
- Subjects
- Science, Physics, Solid State Physics
More by Филатов Д.О., Круглов А.В.
Browse all works by Филатов Д.О., Круглов А.В.
Similar books
- Исследование оптических свойств поверхности твердых тел методом ближнепольной сканирующей оптической микроскопии (БСОМ): Описание лабораторной работы — Филатов Д.О., Круглов А.В., Левичев В.В. (2003)
- Исследование топографии поверхностных твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме: Описание лабораторной работы — Филатов Д.О., Круглов А.В., Гущина Ю.Ю. (2003)
- Исследование поверхности материалов методом сканирующей туннельной микроскопии — Усанов Д.А., Яфаров Р.К.
- Исследование поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии: Описание лабораторной работы — Круглов А. В. (2022)
- Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии — Николичев Д.Е., Боряков А.В.
- Исследование поверхности материалов методом сканирующей атомно-силовой микроскопии — Усанов Д.А., Яфаров Р.К.
