Opening book details…
Can I read Исследование топографии поверхностных твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме: Описание лабораторной работы on EtoBox?
Исследование топографии поверхностных твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме: Описание лабораторной работы by Филатов Д.О., Круглов А.В., Гущина Ю.Ю. is a nonfiction available to read on EtoBox.
What is Исследование топографии поверхностных твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме: Описание лабораторной работы about?
В данной лабораторной работе рассматриваются физические принципы работы сканирующего атомного силового микроскопа в неконтактном режиме и методика исследования топографии поверхности твердых тел в нанометровом масштабе методом неконтактной атомно-силовой микроскопии. Предназначено для студентов старших курсов и магистратуры физического факультета, обучающихся по специальностям ''Микроэлектроника и полупроводниковые приборы'' и ''Физика полупроводников. Микроэлектроника'', направление специализации - ''Физика твердотельных наноструктур''. Пособие подготовлено в рамках работ по проекту ''Научно-образовательный центр Физика твердотельных наноструктур Нижегородского государственного университета им. Н.И.Лобачевского'' Российско-американской программы ''Фундаментальные исследования и высшее образование''
Who reads Исследование топографии поверхностных твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме: Описание лабораторной работы?
It is typically read by self-directed learners exploring a subject in depth.
Common subject areas: history, science, philosophy, social sciences.
- Author
- Филатов Д.О., Круглов А.В., Гущина Ю.Ю.
- Publisher
- ННГУ им. Н.И. Лобачевского
- Published
- 2003
- Language
- RU
- Category
- nonfiction
- Subjects
- Science, Physics, Solid State Physics
More by Филатов Д.О., Круглов А.В., Гущина Ю.Ю.
Browse all works by Филатов Д.О., Круглов А.В., Гущина Ю.Ю.
Similar books
- Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Описание лабораторной работы — Филатов Д.О., Круглов А.В. (2001)
- Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум: учебное пособие для вузов — Елманов Г.Н., Логинов Б.А., Севрюков О.Н. (2011)
- Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии: Практикум — Волкова Е. В., Забавичев И. Ю., Оболенский С. В. (2014)
- Исследование поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии: Описание лабораторной работы — Круглов А. В. (2022)
- Исследование оптических свойств поверхности твердых тел методом ближнепольной сканирующей оптической микроскопии (БСОМ): Описание лабораторной работы — Филатов Д.О., Круглов А.В., Левичев В.В. (2003)
- Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе: учебное пособие — Кузнецова Ю. В. (2023)
