Skip to content

Opening book details…

Can I read Исследование топографии поверхностных твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме: Описание лабораторной работы on EtoBox?

Исследование топографии поверхностных твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме: Описание лабораторной работы by Филатов Д.О., Круглов А.В., Гущина Ю.Ю. is a nonfiction available to read on EtoBox.

What is Исследование топографии поверхностных твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме: Описание лабораторной работы about?

В данной лабораторной работе рассматриваются физические принципы работы сканирующего атомного силового микроскопа в неконтактном режиме и методика исследования топографии поверхности твердых тел в нанометровом масштабе методом неконтактной атомно-силовой микроскопии. Предназначено для студентов старших курсов и магистратуры физического факультета, обучающихся по специальностям ''Микроэлектроника и полупроводниковые приборы'' и ''Физика полупроводников. Микроэлектроника'', направление специализации - ''Физика твердотельных наноструктур''. Пособие подготовлено в рамках работ по проекту ''Научно-образовательный центр Физика твердотельных наноструктур Нижегородского государственного университета им. Н.И.Лобачевского'' Российско-американской программы ''Фундаментальные исследования и высшее образование''

Who reads Исследование топографии поверхностных твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме: Описание лабораторной работы?

It is typically read by self-directed learners exploring a subject in depth.

Common subject areas: history, science, philosophy, social sciences.

Author
Филатов Д.О., Круглов А.В., Гущина Ю.Ю.
Publisher
ННГУ им. Н.И. Лобачевского
Published
2003
Language
RU
Category
nonfiction
Subjects
Science, Physics, Solid State Physics

More by Филатов Д.О., Круглов А.В., Гущина Ю.Ю.

Browse all works by Филатов Д.О., Круглов А.В., Гущина Ю.Ю.

Similar books