Opening book details…
Can I read Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум: учебное пособие для вузов on EtoBox?
Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум: учебное пособие для вузов by Елманов Г.Н., Логинов Б.А., Севрюков О.Н. is a nonfiction available to read on EtoBox.
What is Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум: учебное пособие для вузов about?
Даны общие принципы работы атомно-силовых микроскопов, их устройство и основные конструктивные элементы. Приведено описание устройства, программного обеспечения сканирующего зондового мультимикроскопа СММ-2000 модификации 2000 г. и порядка работы на нем в режиме контактной атомно-силовой микроскопии. Подробно изложена методика запуска и пошаговой настройки микроскопа, а также получения и оптимизации изображений. Рассмотрены методы математической обработки (медианная, фурье-фильтрация и др.) и статистического анализа изображений поверхности (вычисление шероховатости, фрактальный и морфологический анализы). Даны порядок выполнения лабораторной работы, требования к оформлению отчета, а также контрольные вопросы. Предназначено для студентов НИЯУ МИФИ, обучающихся по специальности «Физика металлов». Используется в дисциплинах «Получение и обработка металлов и соединений: наноматериалы и нанотехнологии» и «Кристаллография, рентгенография и микроскопия: электронная микроскопия». Подготовлено в рамках Программы создания и развития НИЯУ МИФИ.;Гриф:Рекомендовано УМО «Ядерные физика и технологии» в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений
Who reads Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум: учебное пособие для вузов?
It is typically read by self-directed learners exploring a subject in depth.
Common subject areas: history, science, philosophy, social sciences.
- Author
- Елманов Г.Н., Логинов Б.А., Севрюков О.Н.
- Publisher
- Национальный исследовательский ядерный университет «Московский инженерно-физический институт»
- Published
- 2011
- Language
- RU
- ISBN
- 9785726215815
- Category
- nonfiction
More by Елманов Г.Н., Логинов Б.А., Севрюков О.Н.
Browse all works by Елманов Г.Н., Логинов Б.А., Севрюков О.Н.
Similar books
- Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии. Лабораторный практикум — Севрюков О.Н.
- ИССЛЕДОВАНИЕ ТОПОЛОГИИ ПОВЕРХНОСТИ МЕТОДОМ СКАНИРУЮЩЕЙ ТУННЕЛЬНОЙ МИКРОСКОПИИ. Лабораторный практикум — Г. Н. Елманов, Б.А. Логинов (2008)
- Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии: Практикум — Волкова Е. В., Забавичев И. Ю., Оболенский С. В. (2014)
- Исследование поверхности материалов методом сканирующей атомно-силовой микроскопии — Усанов Д.А., Яфаров Р.К.
- Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе: учебное пособие — Кузнецова Ю. В. (2023)
- Исследование топологии поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии — Логинов Б.А.