Opening book details…
Can I read Основы анализа поверхности и тонких пленок on EtoBox?
Основы анализа поверхности и тонких пленок by Фелдман Л., Майер Д. is a nonfiction available to read on EtoBox.
What is Основы анализа поверхности и тонких пленок about?
Монография, написанная известными американскими специалистами в области атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов и рентгеновского излучения для анализа структуры и состава тонких пленок вещества. Эти методы играют важную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в области микроэлектроники. Все вопросы изложены на высоком научном уровне.
Who reads Основы анализа поверхности и тонких пленок?
It is typically read by self-directed learners exploring a subject in depth.
Common subject areas: history, science, philosophy, social sciences.
- Author
- Фелдман Л., Майер Д.
- Publisher
- Мир
- Published
- 1989
- Language
- RU
- Category
- nonfiction
More by Фелдман Л., Майер Д.
Browse all works by Фелдман Л., Майер Д.
Similar books
- Магнитооптика тонких пленок — Звездин А., Котов В. (1988)
- Физика тонких плёнок — Под редакцией Г.Хасса и Р.Э.Туна (1967)
- Электрохимия тонких металлических пленок: состояние и перспективы — Мансуров Г.Н., Петрий О.А.
- Физика тонких пленок 3 — Хасс Г., Тун Р. Э. (ред) (1967)
- Технология тонких пленок. Справочник Том 2 — Майссел Леон, Под редакцией Л.Майссела, Р.Глэнга. Перевод с английского Под редакцией М.И.Елинсона, Г.Г.Смолко. (1977)
- Физика тонких пленок 2 — Хасс Г. (ред) (1967)