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可靠性与环境试验参考资料 半导体器件可靠性技术 by 鐜嬬偒鍗庤瘧, 鐜嬬偒鍗庤瘧, 王炫华译 is a book available to read on EtoBox.

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书名 1 前言 2 目录 3 第一章 半导体器件的可靠性 6 1.1 半导体器件可靠性的特征 6 1.2 半导体器件的失效模式和失效机理 7 1.2.1 失效物理 7 1.2.2 失效模式和失效机理 7 1.3 失效分析 10 1.4 失效分布 12 1.4.1 可靠度函数 12 1.4.2 可靠性的概率分布 12 1.5 失效率预计 16 第二章 半导体器件可靠性试验方法 25 2.1 失效判据 25 2.1.1 失效判据的考虑 25 2.1.2 失效判据举例 25 2.1.2.1 晶体管的失效判据 25 2.1.2.2 数字集成电路的失效判据 26 2.1.2.3 线性集成电路的失效判据 27 2.2 可靠性试验方法 27 2.2.1 可靠性试验 27 2.2.2 可靠性试验方法 28 2.2.3 筛选 36 2.3 加速寿命试验方法 38 2.3.1 加速寿命试验的基本想法 38 2.3.2 加速寿命试验示例 39 2.4 可靠性的抽样检验 46 2.4.1 抽样检验方法 46 2.4.2 失效率置信度的求法 47 第三章 半导体器件的质量保证 48 3.1 对质量和可靠性的考虑 48 3.2 半导体器件的可靠性设计 48 3.2.1 可靠性指标 48 3.2.2 可靠性设计的方法 48 3.2.3 设计评价 50 3.3 半导体器件的质量保证系统 51 3.3.1 质量保证活动 51 3.3.2 质量鉴定 51 3.3.3 批量生产的质量和可靠性管理 51 3.3.3.1 材料、零件的质量管理 53 3.3.3.2 生产线上的质量管理 53 3.3.3.3 成品检验及可靠性保证 55 3.3.4 出厂后的失效处理 55 3.3.5 可靠性数据的收集 56 第四章 半导体器件的可靠性 58 4.1 半导体器件的可靠性设计及生产工艺的特点 58 4.1.1 表面钝化技术 58 4.1.2 蒸电极及装架技术 59 4.1.3 封装技术 60 4.1.4 其他技术 60 4.2 硅二极管的可靠性 61 4.2.1 结构 61 4.2.2 可靠性数据 61 4.2.3 使用硅二极管应注意的事项 66 4.3 硅小信号晶体管的可靠性 66 4.3.1 结构 66 4.3.2 可靠性数据 69 4.3.3 使用硅小信号晶体管应注意事项 69 4.4 硅大功率晶体管的可靠性 71 4.4.1 结构 71 4.4.2 可靠性数据介绍 75 4.4.3 使用硅大功率晶体管应注意的事项 77 4.5 线性集成电路的可靠性 79 4.5.1 线性集成电路的结构 79 4.5.2 可靠性数据 81 4.5.3 使用线性集成电路应注意的事项 84 4.

Author

鐜嬬偒鍗庤瘧, 鐜嬬偒鍗庤瘧, 王炫华译

Publisher

可靠性与环境试验编辑部

Published

1979

Language

ZH