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微电子器件与电路可靠性 by 张安康编著, 张安康编著, 张安康 is a book available to read on EtoBox.

What is 微电子器件与电路可靠性 about?

1 (p0-1): 第一章 可靠性概念及其主要数量特征 1 (p0-2): §1.1 产品的可靠度 1 (p0-3): 一、可靠性的定义 1 (p0-4): 二、可靠度R(t) 1 (p0-5): 目录 2 (p0-6): §1.2 产品的失效特征 2 (p0-7): 一、失效分布函数F(t) 2 (p0-8): 二、失效密度函数f(t) 4 (p0-9): 三、失效率函数λ(t) 4 (p0-10): 四、失效分布函数、失效密度函数和失效率的关系 5 (p0-11): 五、微电子器件与电路的失效规律 7 (p0-12): §1.3 产品的寿命特征 7 (p0-13): 一、平均寿命 7 (p0-14): 二、寿命方差和寿命标准离差 8 (p0-15): 一、威布尔分布 8 (p0-16): 三、可靠寿命与中位寿命 8 (p0-17): §1.4 微电子器件常见的失效分布 9 (p0-18): 二、指数分布 10 (p0-19): 三、正态分布 11 (p0-20): 四、对数正态分布 12 (p0-21): §1.5 产品可靠性指标间的内在联系 14 (p0-22): 思考题 14 (p0-23): 参考资料 15 (p0-24): 第二章 可靠性试验及数据处理方法 15 (p0-25): §2.1 可靠性试验 16 (p0-26): §2.2 寿命试验 16 (p0-27): 一、寿命试验简单介绍 17 (p0-28): 二、寿命试验应注意的几个问题 18 (p0-29): 二、筛选条件的选择 18 (p0-30): §2.3 可靠性筛选 18 (p0-31): 一、可靠性筛选的目的和意义 19 (p0-32): 三、筛选方法的简单介绍 21 (p0-33): §2.4 威布尔分布寿命试验结果的图估计法 21 (p0-34): 一、威布尔概率纸的结构原理 24 (p0-35): 二、威布尔概率纸上描图的方法 24 (p0-36): 三、利用威布尔概率纸估计威布尔参数 26 (p0-37): §2.5 利用威布尔概率纸估计寿命特征值 26 (p0-38): 一、?、?、F(μ)、F(σ)四把刻度尺 27 (p0-39): 二、寿命特征值的估计 28 (p0-40): §2.6 加速寿命试验及其数据处理 29 (p0-41): 一、加速寿命试验的理论依据 31 (p0-42): 二、加速寿命试验的加速变量与应力水平 31 (p0-43): 三、加速寿命试验结果的数据处理程序 33 (p0-44): 思考题 34 (p0-45): 参考资料 35 (p0-46): 第三章 微电子器件、电路可靠性抽样检查 35 (p0-47): §3.1 概述 36 (p0-48): §3.2 计数抽样检查的原理 36 (p0-49): 一、抽样检查的接收概率 37 (p0-5

Author

张安康编著, 张安康编著, 张安康

Publisher

北京:电子工业出版社

Published

1994

Language

ZH

ISBN

9787505322356