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XPS en Caracterización de Arcillas by Darwin Alcivar is a document available to read on EtoBox.

Este documento presenta los resultados de la caracterización mediante espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS) de una arcilla natural y varias arcillas pilareadas con aluminio. El XPS proporciona información sobre la composición química y estado de los elementos en la superficie, complementando los resultados de otras técnicas como difracción de rayos X, análisis térmicos y espectroscopia infrarroja. Se caracterizó una arcilla natural de San Juan, Argentina y se encontró que no contenía Fe ni Ti en l

Author

Darwin Alcivar

Language

ES