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金属X射线衍射与电子显微分析技术 by 李树棠著 is a book available to read on EtoBox.

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1 (p0-1): 目录1 (p0-2): 上篇 X射线衍射分析技术1 (p0-3): 第一章 X射线的产生和性质1 (p0-4): 第一节 X射线的本质2 (p0-5): 第二节 X射线的产生5 (p0-6): 第三节 X射线谱9 (p0-7): 第四节 X射线与物质的相互作用16 (p0-8): 第五节 X射线的探测与防护17 (p0-9): 第二章 晶体学基础17 (p0-10): 第一节 晶体结构和空间点阵23 (p0-11): 第二节 晶体对称的基本概念26 (p0-12): 第三节 晶面与晶向指数29 (p0-13): 第四节 晶面间距、晶面夹角和晶带31 (p0-14): 第五节 晶体投影39 (p0-15): 第三章 X射线衍射的几何原理40 (p0-16): 第一节 布拉格定律42 (p0-17): 第二节 倒易点阵45 (p0-18): 第三节 衍射矢量方程和厄瓦尔德图解48 (p0-19): 第四章 X射线衍射线束的强度48 (p0-20): 第一节 一个电子对X射线的散射49 (p0-21): 第二节 一个原子对X射线的散射51 (p0-22): 第三节 单胞对X射线的散射58 (p0-23): 第四节 一个小晶体对X射线的散射61 (p0-24): 第五节 一个小晶体衍射的积分强度63 (p0-25): 第六节 粉末多晶体衍射的积分强度69 (p0-26): 第七节 消光效应对衍射强度的影响70 (p0-27): 第五章 多晶体衍射的照相方法70 (p0-28): 第一节 粉末法成相原理71 (p0-29): 第二节 德拜-谢乐法76 (p0-30): 第三节 衍射花样的指数化84 (p0-31): 第四节 辐射的选择85 (p0-32): 第五节 晶体单色器87 (p0-33): 第六节 聚焦照相法92 (p0-34): 第七节 平面底片照相法93 (p0-35): 第八节 高温和低温照相技术95 (p0-36): 第六章 X射线衍射仪法96 (p0-37): 第一节 测角仪的工作原理98 (p0-38): 第二节 X射线探测器的工作原理103 (p0-39): 第三节 辐射测量中的主要电子电路104 (p0-40): 第四节 计数测量方法和实验参数的选择108 (p0-41): 第五节 衍射线束的强度109 (p0-42): 第七章 劳厄法及晶体取向测定109 (p0-43): 第一节 劳厄实验方法的一般介绍110 (p0-44): 第二节 劳厄法成相原理和对衍射斑点分布规律的解释112 (p0-45): 第三节 劳厄衍射花样指数化117 (p0-46): 第四节 晶体取向的测定120 (p0-47): 第八章 点阵常数的精确测定120 (p0-48): 第一节 一般介绍122 (p0-49): 第二节 德拜-谢乐法中系统误差的

Author

李树棠著

Publisher

北京:冶金工业出版社

Published

1980

Language

ZH