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About this scholarly article

Short Term Reliability and Robustness of ultra-thin barrier, 110 nrn-gate AlN/GaN HEMTs by Gao, Zhan. ;Meneghini, Matteo. ;Harrouche, Kathia ;Kabouche, Riad ;Chiocchetta, Francesca ;Okada, Etienne ;Rampazzo, Fabiana. ;De Santi, Carlo. ;Medjdoub, Farid ;Meneghesso, Gaudenzio. ;Zanoni, Enrico. is a scholarly article available to read on EtoBox.

Author
Gao, Zhan. ;Meneghini, Matteo. ;Harrouche, Kathia ;Kabouche, Riad ;Chiocchetta, Francesca ;Okada, Etienne ;Rampazzo, Fabiana. ;De Santi, Carlo. ;Medjdoub, Farid ;Meneghesso, Gaudenzio. ;Zanoni, Enrico.
Publisher
IEEE
Published
2020

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