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What is Cálculo de Límites de Control en Wafers about?

Este documento presenta un resumen de los cálculos y límites de control para medir el grosor de wafers de silicio utilizados en la producción de semiconductores. Incluye tablas con mediciones de muestras, promedios, desviaciones estándar y límites superior e inferior. También incluye factores para calcular los límites de control y un gráfico de barras que muestra los promedios de grosor medidos para cada muestra.

Author

elizabeth

Language

ES