Skip to content

Opening book details…

About this scholarly article

2008 17th IEEE International Symposium on the Applications of Ferroelectrics - Reliability characterization of a Ferroelectric Random Access Memory embedded within 130nm CMOS by Rodriguez, J. A.; Remack, K. A.; Gertas, J.; Boku, K.; Udayakumar, K. R.; Summerfelt, S.R.; Shinn, G.; Haider, A.; Madan, S.; McAdams, H.; Moise, T. S.; Bailey, R.; Eliason, J.; Depner, M.; Kim, D.; Staubs, P. is a scholarly article available to read on EtoBox.

Author
Rodriguez, J. A.; Remack, K. A.; Gertas, J.; Boku, K.; Udayakumar, K. R.; Summerfelt, S.R.; Shinn, G.; Haider, A.; Madan, S.; McAdams, H.; Moise, T. S.; Bailey, R.; Eliason, J.; Depner, M.; Kim, D.; Staubs, P.
Publisher
IEEE
Published
2008
Language
EN

More by Rodriguez, J. A.; Remack, K. A.; Gertas, J.; Boku, K.; Udayakumar, K. R.; Summerfelt, S.R.; Shinn, G.; Haider, A.; Madan, S.; McAdams, H.; Moise, T. S.; Bailey, R.; Eliason, J.; Depner, M.; Kim, D.; Staubs, P.

Browse all works by Rodriguez, J. A.; Remack, K. A.; Gertas, J.; Boku, K.; Udayakumar, K. R.; Summerfelt, S.R.; Shinn, G.; Haider, A.; Madan, S.; McAdams, H.; Moise, T. S.; Bailey, R.; Eliason, J.; Depner, M.; Kim, D.; Staubs, P.