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Can I read Oberflächenspezifische Analysenverfahren (AES/SAM, ESCA/XPS, SIMS) und ihr Einsatz zur Untersuchung von Verschleiß-Schutzschichten on EtoBox?
Oberflächenspezifische Analysenverfahren (AES/SAM, ESCA/XPS, SIMS) und ihr Einsatz zur Untersuchung von Verschleiß-Schutzschichten by Dr. H. Hantsche; Dr. K.-H. Habig is a Engineering article available to read on EtoBox.
What is Oberflächenspezifische Analysenverfahren (AES/SAM, ESCA/XPS, SIMS) und ihr Einsatz zur Untersuchung von Verschleiß-Schutzschichten about?
## Abstract Es werden die analytischen Möglichkeiten aufgezeigt, die sich ergeben, wenn man mehrere oberflächenspezifische Analysenverfahren, hier speziell AES/SAM, ESCA(XPS) und SIMS, zur Charakterisierung von Werkstoffoberflächen kombiniert einsetzen kann. Die Grundprinzipien werden besprochen, die Vor‐ und Nachteile der Methoden miteinander verglichen – insbesondere in bezug auf die klassische Röntgen‐Mikroanalyse – und schließlich anhand von Beispielen aus dem tribologischen Bereich erläutert.
Who reads Oberflächenspezifische Analysenverfahren (AES/SAM, ESCA/XPS, SIMS) und ihr Einsatz zur Untersuchung von Verschleiß-Schutzschichten?
It is typically read by researchers, students, and practitioners in Engineering.
- Author
- Dr. H. Hantsche; Dr. K.-H. Habig
- Publisher
- John Wiley and Sons; Wiley (John Wiley & Sons); John Wiley & Sons Ltd.; Wiley (ISSN 0933-5137)
- Published
- 1982
- Language
- DE
- Field
- Engineering (Physical Sciences)